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Articles de revues et ouvrages - 2015 et 2014

3 Publications trouvées pour cette recherche

Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs

Journal of Electronic Testing, Octobre 2018, vol. 34, n° 5, pp. 571--586

Auteur(s) : N. Karimi, J.-L. Danger et S. Guilley

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Single-event transient effects on dynamic comparator in 28nm FDSOI CMOS technology

Microelectronics Reliability, Octobre 2018, vol. 88-90, pp. 965-968.

Auteur(s) : N. Maciel, E. Crespo Marques, L. Alves de Barros Naviner et H. Cai

Exploring Hybrid STT-MTJ/CMOS Energy Solution in Near/Sub-Threshold Regime

IEEE Transactions on Magnetics, Février 2018, vol. 54, n° 2, pp. 1-9.

Auteur(s) : H. Cai, Y. Wang, L. Alves de Barros Naviner et W. Zhao

Colloques - 2015 et 2014

4 Publications trouvées pour cette recherche

An improved analysis of reliability and entropy for delay PUFs

Euromicro Conference on Digital System Design (DSD'18), Prague, Czech Republic, Août 2018

Auteur(s) : A. Schaub, J.-L. Danger, S. Guilley et O. Rioul

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CCFI-Cache: A Transparent and Flexible Hardware Protection for Code and Control-Flow Integrity

DSD, Prague, Août 2018.

Auteur(s) : J.-L. Danger, A. Facon, S. Guilley, K. Heydemann, U. Kühne, A. Si-Merabet et M. Timbert

Reliability and entropy of delay PUFs: A theoretical analysis

16th International Workshop on Cryptographic Architectures Embedded in Logic Devices (CryptArchi 2018), Lorient, France, Juin 2018.

Auteur(s) : A. Schaub, J.-L. Danger, S. Guilley et O. Rioul

Confusing information: How confusion improves side-channel analysis for monobit leakages

16th International Workshop on Cryptographic Architectures Embedded in Logic Devices (CryptArchi 2018), Lorient, France, Juin 2018.

Auteur(s) : E. de Chérisey, S. Guilley et O. Rioul

Thèses et HDR - 2015 et 2014

Pas de résultats

Brevets - 2015 et 2014

Pas de résultats

Autres - 2015 et 2014

1 Publication trouvée pour cette recherche

Compact Model of Dielectric Breakdown in Spin Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction 6.0

NanoHub, 2018

Auteur(s) : Y. Wang, Y. Zhang, W. Zhao, Y. Lakys, D. Ravelosona, J.-O. Klein, L. Alves de Barros Naviner et H. Cai

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